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SIMS
(Secondary Ion Mass Spectroscopy)
特 長
- 高感度分析 数十μm領域からppmオーダーの検出
- 深さ方向分析が可能 μmオーダーからnmの範囲の分析
- 全ての元素分析が可能 周期律表全ての元素分析
- 標準試料を用いて、定量分析可能
用 途
- ドーパントの深さ方向濃度プロファイル
- 不純物評価・薄膜の分析 (表面近傍、膜中及び界面に
存在する不純物の深さ方向濃度分布測定)
分析事例