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TOF-SIMS
(Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectroscopy)
特 長
- ppm/ppbレベルの高い検出感度
- 質量数の大きな分子イオンも測定可能
- 60mm□までの大面積試料が測定可能
- 深さ方向のプロファイリングが可能
用 途
- 試料最表面に付着する無機物元素、及び有機物の同定
- ウェーハ表面汚染、残渣、転写物、洗浄効果の確認
- LCDの表示異常原因調査 (シミ、ムラ、ハジキ)
分析事例