高度な分析技術力でディスプレイ材料を中心として幅広くお客さまの問題解決に貢献いたします。
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AFM (Atomic Force Microscope)
AFM
(Atomic Force Microscope)
特 長
最大走査範囲(X-Y方向):90μm
試料サイズ:Φ120mm
分解能:0.05nm(垂直) 、(面内):0.5nm)
用 途
表面形状の高分解能観察
ウエハー、薄膜等の表面凹凸測定
分析事例
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